Reihe Progress in Modern Optics Untersuchung der elektrischen Feldverteilung in der Umgebung von Nanostrukturen Manfred EberlerUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2005 UV-Shearing Interferometrie zur Vermessung lithografischer phase-shift Masken und VUV-Strukturierung Gerald FüttererUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch200529,00 € Experimentelle Kryptographie mit kontinuierlichen Variablen Stefan LorenzUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2005 Interferometrische Charakterisierung zylindrischer Linsen und Flächen in streifender Inzidenz Klaus MantelUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2005 Polarisationseffekte bei der Fokussierung mit hoher numerischer Apertur Ralf DornUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungSoftcover200465 Treffer 1 2 3 4 5 6 7
