Reihe Progress in Modern Optics Experimental characterization of nonclassical polariyation states of intense light Joel HeersinkUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch200629,00 € Automatische Erzeugung vollständiger dreidimensionaler Flächenmodelle N SchönUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch200629,00 € Absolute phasenmessende Deflektometrie Markus KnauerUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2006 Probing the focal region of high focused laser beams using a quantum well hetero structure Geoffrey RurimoUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch200629,00 € Cryptographic Protocols in Optical Communication Marcos Curty AlonsoUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2006 Verringerung systematischer Meßfehler bei der phasenmessenden Triangulation durch Kalibration Klaus VeitUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2006 Ergebnismodellierung und Qualitätskontrolle kraniofazialer Operationen auf Basis optischer Messtechnik M BenzUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch200629,00 € Phasenmessende Deflektometrie Christoph HorneberUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2006 Quantenverschränkung und Interferometrie für die Quanteninformatoinsverarbeitung Oliver GlöcklUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch200529,00 € NOLM basierte 2-R Regeneration von hochbitratigen Datensignalen Markus MeißnerUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch200565 Treffer 1 2 3 4 5 6 7