Verlag Universität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. Mikrocharakterisierung Verfahren zur schnellen Signalaufnahme in der Weißlichtinterferometrie Thomas SeifertUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2007 Non-Stoichiometric Epitaxial GaAs on Vicinal SurfacesThe characteristics of Exces AsCarsten SchürUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2007 Neigungsbasierte Registrierung optisch gemessener Flächen im euklidischen Raum Tobias MaierUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungSoftcover2007 Laterales DUV-Shearing interferometer mit reduzierter zeitlicher und räumlicher kohärenz Irina HarderUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2007 Lokale Messung von Kornorientierungen und inneren mechanischen Spannungen in polykristallinem Solarsilizium mittels Mikr Michael BeckerUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2007 Quantum and thermal phase escape in extended Josephson systems Alexander KempUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2006 Experimental characterization of nonclassical polariyation states of intense light Joel HeersinkUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2006 Automatische Erzeugung vollständiger dreidimensionaler Flächenmodelle N SchönUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2006 Absolute phasenmessende Deflektometrie Markus KnauerUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2006 Probing the focal region of high focused laser beams using a quantum well hetero structure Geoffrey RurimoUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. MikrocharakterisierungTaschenbuch2006128 Treffer 1 2 3 4 5 6 7 8 9 ...